電子線束連接器鹽霧試驗依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-11:1981《電氣和電子產(chǎn)品的環(huán)境測試第2部分：測試方法測試Ka：鹽霧測試方法》
GB/T 2423.17-2008《電氣電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Ka：鹽霧試驗方法》
IEC 60068-2-52:2017“環(huán)境測試第 2 部分：測試方法測試 Kb：鹽霧交替（氯化鈉）溶液”
GB/T 2423.18-2012《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kb：鹽霧交替（氯化鈉）溶液》


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鍍錫連接器端子的鹽霧試驗
許多公司使用鹽霧來檢查連接器端子的來料鍍錫產(chǎn)品并監(jiān)控它們的外觀。
被測連接器在使用時可能完全不接觸鹽類環(huán)境或海洋環(huán)境，這些產(chǎn)品很可能安裝在受保護的環(huán)境中。 在這種環(huán)境下使用鹽霧測試并不表明其與實際應(yīng)用的一致性。
鍍錫產(chǎn)品表面有一層氧化膜，其主要失效機理是配合后的微動腐蝕。 在這種情況下，鹽霧試驗與其失效機制無關(guān)。
即使經(jīng)過鹽霧測試后，表面氧化層變黑，實際使用中，對接端子仍然可以輕松推開這層氧化膜，與內(nèi)部的純錫接觸形成金屬連接。
鹽霧試驗中沒有加速因子。48小時后的鹽霧不代表產(chǎn)品在一定條件下可以使用多少年。

電子線束連接器鹽霧試驗范圍
鹽霧環(huán)境主要用于軍用、特種車輛和船舶應(yīng)用設(shè)備。 一般情況下，鹽霧試驗是在裝有5%鹽溶液的鹽霧試驗箱中進行，暴露時間為48-96小時。
鹽霧對許多材料具有很強的腐蝕性，并且已被證明會導(dǎo)致許多連接器涂層系統(tǒng)失效，包括貴金屬和非貴金屬涂層。 如果使用鹽霧測試，原本適合應(yīng)用環(huán)境的連接器在測試中會失敗。 鹽霧試驗的目的是評估產(chǎn)品的性能，而不是損壞產(chǎn)品。 鹽霧測試適用于海洋環(huán)境中的連接器。 鹽霧試驗的屬性多為外觀檢查、重量檢查和電阻測量。
對于車輛（如車廂）的保護區(qū)，無需在此類環(huán)境中進行鹽霧試驗。 在這些應(yīng)用中，對于貴金屬涂層的應(yīng)用，常見的失效機制是孔隙腐蝕和腐蝕蠕變，通過MFG（HCl、SO2、H2S等混合氣流）測試進行評估。 對于非貴金屬涂層的接觸界面，主要失效機理是微動腐蝕，通過振動和高頻溫濕度循環(huán)試驗進行評價。

無論是線束配件，如電子線束、連接器、端子、卡扣，還是線束組件，DV測試都無法繞過鹽霧測試。 汽車或卡車行走時，線束接頭的位置可能會接觸到濺到輪胎上的水，尤其是北方冬天下雪后，會用鹽來加速路面上的積雪融化。 這些電子線束連接器通常需要進行鹽霧測試以驗證其耐腐蝕性。
線束鹽霧試驗驗證的標(biāo)準(zhǔn)是檢查接觸電阻的可靠性，而不是檢查外觀。 這些連接器通常與密封件一起使用以提高抗鹽霧性能。