環(huán)境模擬試驗
健明迪檢測提供的環(huán)境模擬試驗，應(yīng)用范圍 電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、led、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)、儀器、車輛、塑料制品、金屬、食品、化工、建材等的耐高溫、低溫、耐濕，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
應(yīng)用范圍
電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、led、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)、儀器、車輛、塑料制品、金屬、食品、化工、建材等的耐高溫、低溫、耐濕循環(huán)試驗，醫(yī)療、航空和其他產(chǎn)品。
試驗背景
環(huán)境模擬試驗是根據(jù)產(chǎn)品運輸和使用過程中可能發(fā)生的（極限）環(huán)境進(jìn)行模擬測試，盡量在產(chǎn)品開發(fā)階段發(fā)現(xiàn)絕大部分問題，這樣一來在產(chǎn)品推向市場后不會有大的問題出現(xiàn)。一切的準(zhǔn)則就是參考實際的產(chǎn)品用戶使用剖面進(jìn)行。環(huán)境模擬試驗更多的是針對產(chǎn)品的設(shè)計目標(biāo)來進(jìn)行驗證，其中主要是運輸環(huán)境、存儲環(huán)境、工作環(huán)境等。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設(shè)備，具備環(huán)境模擬試驗?zāi)芰Γ瑸楦黝愲娖鳌⑼ㄓ崱⒐饫w、LCD、led、晶體等產(chǎn)品提供專業(yè)的環(huán)境模擬試驗服務(wù)。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設(shè)備，具備環(huán)境模擬試驗?zāi)芰Γ瑸楦黝愲娖鳌⑼ㄓ崱⒐饫w、LCD、led、晶體等產(chǎn)品提供專業(yè)的環(huán)境模擬試驗服務(wù)。
試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓》
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗A-低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗B-高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓》
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗A-低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗B-高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
環(huán)境模擬試驗機(jī)構(gòu)
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設(shè)備，具備環(huán)境模擬試驗?zāi)芰Γ瑸楦黝愲娖鳌⑼ㄓ崱⒐饫w、LCD、led、晶體等產(chǎn)品提供專業(yè)的環(huán)境模擬試驗服務(wù)。
試驗種類
1、低壓（高空）試驗：檢驗樣品在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對性能的影響。
2、高溫試驗：檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。
3、低溫試驗：檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和使用。
4、熱沖擊試驗：檢驗環(huán)境溫度驟然變化對樣品性能的影響。
5、太陽輻射（日照）試驗：檢驗太陽輻射對樣品或有關(guān)材料的使用或露天存儲的影響。
6、淋雨試驗：試驗適用于使用過程中有可能受到雨淋的樣品。
7、防潮試驗：檢驗樣品對溫暖潮濕的環(huán)境的適應(yīng)能力。
8、防霉試驗：評定樣品發(fā)生霉變的程度 和霉變對樣品性能或使用的影響程度。
9、鹽霧試驗：檢驗含鹽潮濕大氣對樣品性能的影響。
10、沙塵試驗：檢驗樣品在沙塵環(huán)境中的使用和存儲能力。
11、浸水試驗：檢驗樣品浸入水中不漏水的能力。
12、凍雨試驗：檢驗 雨、霧和濺起的海水落在樣品上結(jié)冰后對樣品使用性能的影響。
2、高溫試驗：檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。
3、低溫試驗：檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和使用。
4、熱沖擊試驗：檢驗環(huán)境溫度驟然變化對樣品性能的影響。
5、太陽輻射（日照）試驗：檢驗太陽輻射對樣品或有關(guān)材料的使用或露天存儲的影響。
6、淋雨試驗：試驗適用于使用過程中有可能受到雨淋的樣品。
7、防潮試驗：檢驗樣品對溫暖潮濕的環(huán)境的適應(yīng)能力。
8、防霉試驗：評定樣品發(fā)生霉變的程度 和霉變對樣品性能或使用的影響程度。
9、鹽霧試驗：檢驗含鹽潮濕大氣對樣品性能的影響。
10、沙塵試驗：檢驗樣品在沙塵環(huán)境中的使用和存儲能力。
11、浸水試驗：檢驗樣品浸入水中不漏水的能力。
12、凍雨試驗：檢驗 雨、霧和濺起的海水落在樣品上結(jié)冰后對樣品使用性能的影響。
試驗方式
自然暴露試驗： 自然環(huán)境暴露試驗是指自然環(huán)境下進(jìn)行長時間暴露的試驗，通常是在室外自然條件下進(jìn)行長期暴露，試驗時間一般至少兩年。
人工模擬試驗： 通過試驗儀器（溫濕度箱、振動臺、模擬運輸臺等）模擬產(chǎn)品在運輸和使用過程中的氣候及機(jī)械環(huán)境的試驗。
現(xiàn)場試驗： 將產(chǎn)品在實際使用條件下進(jìn)行考察試驗。
人工模擬試驗： 通過試驗儀器（溫濕度箱、振動臺、模擬運輸臺等）模擬產(chǎn)品在運輸和使用過程中的氣候及機(jī)械環(huán)境的試驗。
現(xiàn)場試驗： 將產(chǎn)品在實際使用條件下進(jìn)行考察試驗。
