GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第1部分：總則
GB/T 4937.2-2006 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第2部分：低氣壓
IEC 60068-2-13環(huán)境試驗第2 部分：試驗M：低氣壓

半導(dǎo)體器件低氣壓試驗?zāi)康氖菧y定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時，空氣和其他絕緣材料的絕緣強度減弱所造成的。半導(dǎo)體器件低氣壓試驗僅適用于工作電壓超過1 000 V的器件。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗設(shè)備，具備低氣壓試驗?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的低氣壓試驗服務(wù)。

健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗設(shè)備，具備低氣壓試驗?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的低氣壓試驗服務(wù)。

樣品應(yīng)按規(guī)定放置在密封室內(nèi)，并按規(guī)定把氣壓減小到某個試驗條件。把樣品保持在規(guī)定的氣壓下，對它們進(jìn)行規(guī)定的試驗。 在試驗期間及試驗前的20 min內(nèi)，試驗溫度應(yīng)為25C±10C。
對器件施加規(guī)定的電壓，在從常壓到規(guī)定的最低氣壓并恢復(fù)到常壓的整個過程中監(jiān)測器件是否出現(xiàn)故障。